CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

  • Andrei Pavlov, Manoj Sachdev
  • Издательство: Springer
  • ISBN: 1402083629
  • Год издания: 2008
  • Кол.страниц: 203
  • Язык: английский
  • Формат: PDF
  • Размер: 8.6 Mb
Embedded SRAMs now dominate CMOS computing chips taking well over half of the total transistor count of high performance ICs. This dominance forces designers to minimize the SRAM layout area imposing a tight transistor density. This transistor circuit density presents two challenges for the test. The first is that virtually all areas of the cells are active and sensitive to particle-related defects. Secondly, parasitic coupling between cells is a major concern. This book addresses both of these problems.

Скачать бесплатно CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

можно по следующим ссылкам:
Внимание! У вас нет прав для просмотра скрытого текста.
Возможно вы не авторизированны на сайте.
Рекомендуем Вам пройти быструю регистрирацию либо зайти на сайт под своим именем
F.A.Q. Правообладатель?
Комменатрии

Добавить комментарий

Включите эту картинку для отображения кода безопасностиобновить если не виден код