Applied RHEED - Reflection High-Energy Electron Diffraction During Crystal Growth

  • Wolfgang Braun
  • Издательство: Springer
  • ISBN: 3540651993
  • Год издания: 1999
  • Кол.страниц: 224
  • Язык: английский
  • Формат: PDF
  • Размер: 25.49 Mb
The precisely controlled preparation of samples is of paramount importance in both solid-state physics and materials science. In addition to its success as a device production technology, molecular-beam epitaxy (MBE) is probably the most important method in this field, since it allows the growth of crystalline layer combinations with accurate dimensional control down to the atomic level. This precision would not be possible without adequately accurate characterization techniques like reflection high-energy electron diffraction (RHEED) that provide resolution on the atomic scale while at the same time being fully compatible with the crystal growth process.

Скачать бесплатно Applied RHEED - Reflection High-Energy Electron Diffraction During Crystal Growth

можно по следующим ссылкам:
Внимание! У вас нет прав для просмотра скрытого текста.
Возможно вы не авторизированны на сайте.
Рекомендуем Вам пройти быструю регистрирацию либо зайти на сайт под своим именем
F.A.Q. Правообладатель?
Просмотров: 629
Комменатрии

Добавить комментарий

Включите эту картинку для отображения кода безопасностиобновить если не виден код