CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test

  • Andrei Pavlov
  • Издательство: Springer
  • ISBN: 1402083629
  • Год издания: 2008
  • Кол.страниц: 202
  • Язык: английский
  • Формат: PDF
  • Размер: 10.6 мб
As technology scales into nano-meter region, design and test of Static Random Access Memories (SRAMs) becomes a highly complex task. Process disturbances and various defect mechanisms contribute to the increasing number of unstable SRAM cells with parametric sensitivity. Growing sizes of SRAM arrays increase the likelihood of cells with marginal stability and pose strict constraints on transistor parameters distributions.

Скачать бесплатно CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test

можно по следующим ссылкам:
Внимание! У вас нет прав для просмотра скрытого текста.
Возможно вы не авторизированны на сайте.
Рекомендуем Вам пройти быструю регистрирацию либо зайти на сайт под своим именем
F.A.Q. Правообладатель?
Просмотров: 524
Комменатрии

Добавить комментарий

Включите эту картинку для отображения кода безопасностиобновить если не виден код